電容器組是由許多具有相似額定值的電容器組成的組合，這些電容器彼此并聯(lián)或串聯(lián)以收集電能。然后使用生成的組來抵消或校正交流電源中的功率因數(shù)滯后或相移。它們還可用于直流電源，以提高存儲能量的總量或提高電源的紋波電流容量。

電容器組通常用于 

功率因數(shù)校正

無功補(bǔ)償

電容器與感應(yīng)電動(dòng)機(jī)的作用相反，它抵消了大電流，因此，這個(gè)電容器組減少了你的電費(fèi)。 

為什么要進(jìn)行電容器組測試？

電容器組是電力系統(tǒng)的一個(gè)重要方面，可提供正確的功率因數(shù)校正。功率因數(shù)校正單元根據(jù)其安裝位置具有各種功能設(shè)置。水分、時(shí)間、諧波和溫度會改變電容器組的功率因數(shù)校正。已安裝的電容器組，如果未在特定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測試或維護(hù)，將無法發(fā)揮其最佳功能。隨著時(shí)間的推移，電容器的運(yùn)行會減弱，從而降低電力系統(tǒng)的功率因數(shù)，從而導(dǎo)致功率因數(shù)損失。

電容器組的設(shè)計(jì)試驗(yàn)或型式試驗(yàn)

當(dāng)廠商推出新設(shè)計(jì)的電力電容器時(shí)，要測試新批次的電容器是否符合標(biāo)準(zhǔn)。類型測試或設(shè)計(jì)測試不是在單個(gè)電容器上進(jìn)行的，而是在一些隨意選擇的電容器上進(jìn)行，以確保符合標(biāo)準(zhǔn)。

在新設(shè)計(jì)的啟動(dòng)過程中，一旦進(jìn)行了這些設(shè)計(jì)測試，就無需為任何后續(xù)批次的生產(chǎn)重復(fù)這些測試，直到設(shè)計(jì)更改為止。設(shè)計(jì)測試或型式測試通常很昂貴或具有破壞性。

對電容器組進(jìn)行的型式測試是——

1.高壓沖擊耐受測試。

2.襯套測試。

3.熱穩(wěn)定性測試。

4.無線電影響電壓 (RIV) 測試。

5.電壓衰減測試。

6.短路放電測試。

電容器組例行測試

例行測試也稱為生產(chǎn)測試。這些測試應(yīng)該在一個(gè)生產(chǎn)批次的每個(gè)電容器單元上進(jìn)行，以確保單個(gè)電容器的性能參數(shù)。

短時(shí)過電壓測試

在本試驗(yàn)中，在電容器單元的套管支架上施加 4.3 倍額定 rms 電壓的直流電壓或 2 倍額定 rms 電壓的交流電壓。電容范圍必須能承受這些電壓中的任何一個(gè)至少十秒鐘。測試期間單元的溫度應(yīng)保持在 25±5 度。在三相電容器單元的情況下，如果三相電容器元件通過第四個(gè)套管或通過套管以星形連接，中性線連接，則施加在相端子之間的電壓將是上述電壓的√3倍。將在相端子和中性端子之間施加與上述相同的電壓。

端子到外殼電壓測試

該測試僅適用于單元的內(nèi)部電容器元件與其外殼隔離的情況。這確保了電容器元件和金屬外殼之間提供的絕緣的過電壓承受能力。在套管和套管架之間施加測試電壓 10 秒。對于具有不同BIL套管的電容器單元，本次測試是在較低BIL套管的基礎(chǔ)上進(jìn)行的。

電容測試

進(jìn)行此測試是為了確保批次或批次中的每個(gè)電容器單元在可能的溫度限制（被認(rèn)為是 ?C）內(nèi)正常運(yùn)行期間應(yīng)提供不超過其額定 VAR 的 110%。如果測量是在 25?C 以外的任何溫度下進(jìn)行的，則曲折結(jié)果應(yīng)按 25?C 計(jì)算。

電容器單元的泄漏測試

進(jìn)行此測試是為了確保限制沒有任何泄漏。在該測試中，測試單元由外部烘箱加熱，如果有任何泄漏點(diǎn)，則迫使絕緣液體從外殼中流出。該測試可確保所有接頭均已正確擰緊和密封。

放電電阻測試

對每個(gè)電容器單元進(jìn)行此測試，以確保內(nèi)部放電裝置或電阻器足以在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)將電容器單元從其初始?xì)堄嚯妷悍烹娭?50 V 或更低。初始?xì)垑嚎赡苁请娙萜黝~定電壓有效值的√2倍。

損失確定測試

對每個(gè)電容器單元進(jìn)行此測試，以證明單元在運(yùn)行過程中發(fā)生的損耗小于該單元的最大允許損耗。

內(nèi)部熔斷電容器單元的熔斷能力測試

在該測試中，電容器單元首先以高達(dá)電容器單元額定電壓有效值 1.7 倍的直流電壓 (DC) 充電。然后，該單元可以通過一個(gè)盡可能靠近的間隙放電，而對放電電路沒有任何額外的阻抗。電容器的電容應(yīng)在施加充電電壓之前和放電之后測量。這兩個(gè)測量值的方差應(yīng)小于激活內(nèi)部保險(xiǎn)絲元件時(shí)的電容方差。